SEM

Met het blote oog kan een mens veel waarnemen: een kettingbreuk, een lekkende leiding, een verstopte buis, een scheurende plaat.
Voor het vaststellen van de oorzaak is het regelmatig nodig om menselijke zintuigen te helpen met geavanceerde apparatuur en toegepaste wetenschappelijke theorieën

Om te onderzoeken of een gebeurtenis op macro-schaal het gevolg is van processen op microniveau, is regelmatig zelfs een professionele lichtmicroscoop niet voldoende. Om het hyperkleine te kunnen onderzoeken heeft MCI een SEM (Scanning Electron Microscopy) met EDX (Energy Dispersive X-Rays) faciliteit in huis.

SCANNING ELEKTRONENMICROSCOPIE

With a SEM (scanning electron microscope), the surface of objects can be examined in different ways:

+ SEI (Secondary Electron Imaging = Secondary Electrons Display) for extremely detailed images with details smaller than 1nm.

+ BEI (Backscatter Imaging = Display by backscattered electrons) for an image of relatively deeper material.

+ EDS (Energy Dispersive X -ray Spectrometry = Display by characteristic X-rays) for the quantitative composition of a sample.

For non-conductive compositions, the low - vacuum mode is an option. Backscatter electrons are used for the image analysis. Another possibility is the vapor deposition of the non-conductive compositions so that they are still conductive. 

With magnifications of 30x or even 300.000x the SEM is ideal for 3D surface analysis : fracture surfaces (initiation, fracture direction and progress), composition or contamination of materials and micro phenomena (creep and damage to grain boundaries).