SEM

Met het blote oog kan een mens veel waarnemen: een kettingbreuk, een lekkende leiding, een verstopte buis, een scheurende plaat.
Voor het vaststellen van de oorzaak is het regelmatig nodig om menselijke zintuigen te helpen met geavanceerde apparatuur en toegepaste wetenschappelijke theorieën

Om te onderzoeken of een gebeurtenis op macro-schaal het gevolg is van processen op microniveau, is regelmatig zelfs een professionele lichtmicroscoop niet voldoende. Om het hyperkleine te kunnen onderzoeken heeft MCI een SEM (Scanning Electron Microscopy) met EDX (Energy Dispersive X-Rays) faciliteit in huis.

SCANNING ELEKTRONENMICROSCOPIE

Met een SEM (‘scanningelektronenmicroscoop’) onderzoeken we het oppervlak van voorwerpen op verschillende manieren:

+ SEI (Secondary Electron imaging = Secundaire Elektronenweergave) voor uiterst gedetailleerd beeld met details kleiner dan 1nm.

+ BEI (Backscatter Imaging = Weergave door teruggestrooide elektronen) voor een beeld van relatief dieper gelegen materiaal.

+ EDS (Energy Dispersive X-ray Spectrometry = Weergave door karakteristieke röntgenstraling) voor de kwantitatieve samenstelling van een preparaat.

Voor niet-geleidende preparaten heeft de SEM een laag-vacuüm optie. Backscatter elektronen worden hierbij gebruikt voor de beeldanalyse. Een andere mogelijkheid is het opdampen van de niet-geleidende preparaten zodat deze toch geleidend worden. 

Met vergrotingen van 30x tot zelfs 300.000x is de SEM uitermate geschikt om 3D-oppervlakken te analyseren: breukoppervlakken (initiatie, breukrichting en snelheid), samenstelling van of vervuiling in materialen en microfenomenen (kruip en aantasting aan korrelgrenzen). Met onze SEM + EDX faciliteit wordt onderzoek naar een zeer hoog niveau verheven waardoor bewijsvoeringen sluitend worden.